Главная

  Новости

  Тензорезисторы на основе SmS

  Барорезисторы

  Тензодатчики

  Производство полупроводников SmS

  Фольговые тензорезисторы

  Измерительное оборудование и аксессуары

  Производство тензорезисторов

  Высокоэффективный термоэлектрический преобразователь (для инвесторов)

  Полезная информация

  Задайте нам ворос

  Прайс-лист

  Контакты

 
  Датчики внутренних напряжений, пластмассовых, композитных и бетонных конструкций на основе SmS

В. В. Каминский, д-р техн. наук, Л. Н. Васильев, канд. физ.-мат. наук, П. В. Дубровин, С. М. Соловьев, В. В. Шпейзман, д-р физ.-мат. наук, Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе РАН

ДАТЧИКИ ВНУТРЕННИХ НАПРЯЖЕНИЙ ПЛАСТМАССОВЫХ, КОМПОЗИТНЫХ И БЕТОННЫХ КОНСТРУКЦИЙ НА ОСНОВЕ СУЛЬФИДА САМАРИЯ (SmS)

Предложены тензорезисторные радиационностой­кие датчики на основе сульфида самария (SmS) для из­мерения составляющих деформации и давления всес­тороннего сжатия в критических точках конструкций Ё" тона, пластмассы и композитных материалов, датчики могут быть использованы для долговременного контроля механических напряжений в процессе эксплуауатации мостов, туннелей, креплений горных  выработок и т. д., а также при изготовлении ответ­ственных деталей конструкций{.в'"аэрокосмической, су­достроительной, автомобильной и других отраслях про­мышленности.

Разработаны тензорезисторные датчики для из­мерения составляющих деформации и давления всестороннего сжатия в критических точках кон­струкций при их нагружении. Для этого датчики размещаются внутри материала конструкций из бетона, пластмассы и композитных материалов (углепластиков, стеклопластиков) в процессе изго­товления последних и могут выдавать информацию, как во время стендовых испытаний конструк­ций, так и в процессе их эксплуатации. В общем случае для измерения всех компонентов произволь­ного симметричного тензора деформации мини­мальное число устанавливаемых взаимно независи­мых датчиков должно быть равно шести [1]. В боль­шинстве частных случаев меньшего чис­ла тензорезисторов (обычно от одного до трех).

Чувствительными элементами датчиков для бе­тона являются полупроводниковые тонкопленоч­ные тензорезисторы специальной формы с актив­ным слоем из материала на основе SmS. Они имеют коэффициент тензочувствительности К = 20-100 и чувствительность электросопротивления к всес­тороннему сжатию 1—3 % на 10 МПа (100 атм.). Тензорезисторы работоспособны до давлений всестороннего сжатия 10 МПа и до температур ~400 °С, обладают высокой временной стабильно­стью (проверено экспериментально до 12 лет) и ре­кордной радиационной стойкостью среди извест­ных полупроводников.  Они работоспособны до -1010 Р в условиях  - облучения [2, 3]. Датчики выдерживают все деформации, которые выдерживают бетоны (предельно допус­тимые механические напряжения выше, чем у бе­тонов). Выходные характеристики тензорезис­торов практически линейные по деформации, дав­лению и температуре во всех рабочих диапазонах. Выходной сигнал с датчиков без усиления состав­ляет до 20 мВ в соответствии с максимально дости­жимыми в бетоне деформациями. Разрешающая способность по относительной деформации не хуже 10 . Пространственная область мониторинга де­формаций одним датчиком от -10 мм до -10 см в зависимости от размеров, числа и взаимного рас­положения тензорезисторов.

Приведенные на рис. 1 результаты параллель­ных исследований деформаций со в бетонном ци­линдре при его сжатии, полученные с помощью датчиков на SmS и на универсальной испытатель­ной машине "Instron 1342", показывают хорошее соответствие результатов. Однако датчики на SmS более четко показывают границы смены механиз­мов деформирования, в частности, переход от упругой зоны к пластической, благодаря локаль­ности своих измерений. Геометрия приложения нагрузки и установки датчиков схематически по­казана на рис. 2. Здесь тензорезисторы 1 и 2 из­меряют продольную и поперечную составляющие деформации соответственно.

Ближайшими аналогами таких датчиков явля­ются закладные устройства на основе металличе­ских тензорезисторов и магнитоупругие датчики. Они существенно уступают датчикам на SmS по всем эксплуатационным параметрам и превосходят их по габаритным размерам на несколько порядков, что и ограничивает область их при­менения, что и ограничивает область их при­менения.

Рис. 1. Зависимости относительных деформаций от нагрузки для бетонного цилиндра при сжатии. Данные, полученные с датчика на SmS (K= 25): 1— продольная деформация; 2— поперечная деформация; 3 — продольная деформация, измеренная с помощью экстензометра с базой 10 мм при испытании на "Instron 1342"

 

Датчики для бетона на основе SmS защищены авторским свиде­тельством на изобретение [4]. Та­кие датчики использовались при разработке крепления нефтяных скважин, для контроля напряжен­ного состояния бетонных кон­струкций в условиях подвижки грунта, а также для определения предельных отрицательных тем­ператур, при которых возможно проведение бетонных работ (опре­деление температуры отвердевания бетонного теста). На рис. 3 приве­дены в сравнении снятые с по­мощью датчиков на основе SmS температурные зависимости ло­кальных объемных напряжений в замораживаемых бетонном тесте и грунте. Информация получена с объемов бетона и грунта -10 мм в температурном интервале + 10ч—45 °С. Кривые такого типа уда­лось снять впервые. Никакими другими средства­ми это сделать невозможно. Количественные дан­ные и ход кривых соответствуют расчетам.

Рис. 3. Снятые с помощью тонкопленочного датчика на основе SmS зависимости локальных объемных напряжений от темпера­туры в затвердевающем бетоне (1) и в замораживаемом грунте (2)

Датчики могут быть использованы для долго­временного контроля механических напряжений в процессе эксплуатации мостов, туннелей, крепле­ний горных выработок и т. п. Высокая радиацион­ная стойкость может позволить применять датчики на SmS для мониторинга бетонных конструкций в условиях облучения.

Датчики для измерения деформации пластмасс и композитов по конструкции аналогичны датчи­кам для бетона и отличаются тем, что активный слой тензорезисторов нанесен на специальную подложку, наличие которой не вносит искажений в поле механических напряжений исследуемого объ­екта. Тензорезисторы имеют электросопротивле­ние ~102—104 Ом и выдерживают деформации до ~1,5%. Выходной сигнал с датчика в рабочем диа­пазоне деформаций без усиления до 0,5 В. При этом линейность изменения ln(R) с точностью 1 % наблюдается во всем рабочем диапазоне. Про­веренная стабильность по времени составляет око­ло двух лет. Достоверность информации, снимаемой с датчиков, помещенных в композиты и пластмассы, также проверялась на испытательной машине "In­stron 1342". Результаты параллельных испытаний с помощью датчиков на SmS и на "Instron 1342" для пластмассового образца приведены на рис. 4.

Рис. 4. Зависимости относительной деформации от нагрузки для пластмассового образца, полученные с помощью датчика на SmS (/) и экстензометра с базой 10 мм (2) при испытании на "Instron 1342"

На­блюдалось хорошее соответствие результатов. На рис. 5 изображена геометрия приложения нагрузки и установки датчиков. Могут быть изготовлены тензорезисторы с базами от 0,5 мм до 10 см.

Рис. 5. Геометрия приложе­ния нагрузки и установки датчиков

Высокая тензочувствительность позволяет из­мерять напряжения, возни­кающие в пластмассовых конструкциях не только при нагружении, но и при изменении температуры. Соответствующие испыта­ния проводились до тем­ператур -+120 °С. Работо­способность при более вы­соких температурах огра­ничена обнаруженным недавно в материалах на основе сульфида самария эффектом генерации электродвижущей силы при Т~ 150 °С. Этот эффект связан с изменением валентности ионов са­мария, находящихся в междоузлиях кристалличе­ской решетки SmS [5]*. Однако и такие предельные рабочие температуры оказываются выше темпера­тур, при которых эксплуатируются исследуемые материалы.

 

Рис 6. Зависимость относительной деформации от удельной нагрузки для образца из углепластика, полученная с помощью датчика на SmS

 

На рис. 6 приведены результаты испытаний образца из углепластика с помощью датчика на ос­нове SmS. На рис. 7 изображена геометрия взаимного расположе­ния нагрузки, датчика и слоев уг­лепластика. На рисунке видно, что при малых деформациях вы­ходной сигнал с датчика абсо­лютно линеен, что соответствует линейности изменения деформа­ции с нагрузкой. Результаты ис­пытаний при больших деформа­циях образца показаны на рис. 8. Из рис. 8 следует, что датчик ра­ботоспособен далеко за предела­ми области упругих деформаций образца. Расположение датчика и схема нагружения соответству­ет рис. 5. До нагрузки Ра 6000 Н датчик испытывает сжимающие пуассоновы   деформации.  

Рис. 7. Схематиче­ское изображение образца из углеплас­тика, приложенной нагрузки и датчика на основе SmS

При дальнейшем увеличении нагрузки наблюдается увеличение сопротивления тензорезистора, вызванное повреждениями чувствительного слоя вследствие растрескивания, испытываемого образца. Последняя точка Р = 10000 Н соответствует разру­шению образца при его относительной деформации 1,5 % (измерено на "Instron 1342").

Рис. 8. Испытания до разрушения образца из углепластика. Данные получены с помощью тензорезистора на основе SmS

 

Перспективным представляется изготовление композитных материалов с заранее встроенными тензорезисторами на основе SmS (пласиины,стержни и т. п.) для применения при изготовлении ответственных деталей конструкций в аэрокосми­ческой, судостроительной, автомобильной и дру­гих отраслях промышленности. Аналогов таким материалам пока не существует.

Список литературы

1.Ландау Л. Д., Лифщиц Е. М. Теория упругости. М.: Нау­ка. 1965. 204 с.

2.  Каминский В. В., Васильев Л. Н., Горнушкина Е. Д., Соловьев С. М., Сосова Г. А., Володин Н. М. Влияние гамма-облучения на электрические параметры тонких пленок SmS //
ФТП. 1995. Т. 29. Вып. 2. С. 306-308.

3. Васильев Л.   Н.,  Каминский  В.  В.,  Соловьев С.  М.,
Шаренкова Н. В. Механизм высокой радиационной стойкости
электрических параметров тонких пленок SmS // ФТП. 2000.
Т. 34. Вып. 9. С. 1066-1068.

4: Каминский В. В., Сосов Ю. М., Володин Н. М. Тензорезистор. А.с. № 1717946, приоритет от 11.07.1989.

5. Каминский В. В., Соловьев С. М. Возникновение элек­тродвижущей силы при изменении валентности ионов самария в процессе фазового перехода в монокристаллах SmS // ФТТ. 2001. Т. 43. Вып. 3. С. 423-426.

 

Рис.2.Геометрия приложения